Vertel uw vrienden over dit artikel:
Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics
Prijs
€ 266,99
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 3 - 6 dec.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics
232 pages
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Wordt vrijgegeven | 25 november 2024 |
| ISBN13 | 9780443297861 |
| Uitgevers | Elsevier Science Publishing Co Inc |
| Pagina's | 232 |
| Afmetingen | 497 g (Gewicht (geschat)) |
| Serie-editor | Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France) |
| Serie-editor | Hytch, Martin (Senior Scientist, French National Centre for Research (CNRS), Toulouse, France) |