Vertel uw vrienden over dit artikel:
Advanced VLSI Design and Testability Issues 1e uitgave
Prijs
€ 152,99
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 17 - 31 jul.
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Ook verkrijgbaar als:
Advanced VLSI Design and Testability Issues
This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.
360 pages, 29 Tables, black and white; 192 Illustrations, black and white
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 19 augustus 2020 |
| ISBN13 | 9780367492823 |
| Uitgevers | Taylor & Francis Ltd |
| Pagina's | 360 |
| Afmetingen | 241 × 162 × 27 mm · 718 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Mohapatra, Sushanta Kumar (Kalinga Institute of Industrial Technology, India.) |
| Uitgever | Saxena, Sobhit (Lovely Professional University University, India.) |
| Uitgever | Tripathi, Suman Lata (Lovely Professional University, India) |
