Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices - Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired)) - Boeken - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780120885749 - 1 december 2014
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices 2e uitgave

Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired))

Prijs
元 1.484

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 9 - 19 jul.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices 2e uitgave

Offers coverage of some of the major topics related to the performance and failure of materials used in electronic devices and electronics packaging. This book explains the common mechanisms that lead to electronics materials failures, including dielectric breakdown, hot-electron effects and radiation damage.

758 pages, colour illustrations

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 1 december 2014
ISBN13 9780120885749
Uitgevers Elsevier Science Publishing Co Inc
Pagina's 758
Afmetingen 165 × 232 × 46 mm   ·   1,17 kg
Alles tonen

Meer door Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired))

Bekijk alles van Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, USA (Retired)) ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )